适用场景的差异更为明显:单色仪适合 “理想工况”—— 被测目标面积大(能充满视场)、表面平整且理化状态稳定(无氧化、气化)、光学通道洁净,例如热处理炉中大型工件的均匀测温,MARS 系列凭借高性价比成为这类场景的优先选择;双色仪则主打 “复杂工况”,如钢铁连铸中快速移动的小目标、玻璃窑的高粉尘环境、半导体长晶炉的局部遮挡场景,STRONG 系列的双色模式能有效规避干扰,确保数据可靠。此外,双色仪通常具备模式切换功能(如 STRONG 系列可切换单色模式),灵活性更高;而单色仪在常规场景下成本更低、操作更简便。工业用户选型时,需结合测温环境的干扰程度、目标大小、精度要求综合判断 —— 复杂环境优先选双色(如 STRONG),常规稳定场景可选单色(如 MARS),确保设备性能与需求准确匹配。MARS 系列红外测温仪,适配多行业准确测温需求。邢台在线式高温计供应商

EX-SMART-F 系列光纤式双色红外测温仪,在功能配置上,它支持双色、单色宽波段(1CB)、单色窄波段(1CS)三种测温模式,主屏与小屏可同步显示不同模式下的实时温度,满足多样化测量需求。配备红色激光瞄准(800℃以下建议关闭以避免影响精度),搭配手动可调焦镜头(焦距 0.15m~5m),准确定位被测目标。同时,具备镜头脏检测功能,当双色信号能量百分比低于设定值(默认 30%)时,PNP 输出 DC24V 报警,提醒及时清洁。丰富的通讯与输出接口(3 路模拟量、RS485/RS232)支持设备联网与数据上传,广泛应用于激光加热、等离子体加热、半导体长晶炉等高精度、复杂环境的温度监测天津国产高温计用途所有系列均内置 EMI 滤波器,可抗 2500VDC 脉冲群干扰。

红外测温仪的校准需遵循严格标准,思捷采用 “标准黑体炉校准法”,符合 JJG 856-2015《工作用辐射温度计》检定规程。校准过程分为三步:首先将设备预热 10 分钟,恢复出厂参数(单色发射率设为 0.990~1.000,双色斜率设为 1.000);然后将测温仪对准标准黑体炉(发射系数≥0.999),在不同温度点(如 500℃、1000℃、2000℃)记录测量值与黑体炉标准值的偏差;通过软件调整满度与零点补偿(如 EX-SMART 系列的 SF、SO 参数),使偏差控制在 ±0.5% T 以内。思捷还为用户提供校准建议:常规工业场景建议每 6 个月校准一次;高精度场景(如半导体、科学实验)建议每 3 个月校准一次;若设备经历剧烈冲击、长期在恶劣环境使用,需缩短校准周期。此外,思捷拥有十多台进口 / 国产标准黑体炉(辐射温度覆盖 - 50℃~3000℃),可为用户提供专业校准服务,确保设备长期保持高精度状态。
STRONG系列单色红外测温仪以准确稳定、性价比出众的特点,成为工业测温的常用设备,涵盖600℃~3000℃、150℃~3000℃等多个分段测温范围,适配热轧、金属锻造、半导体等多元场景。其采用特殊设计的窄带红外滤片,能很大程度降低发射率变化对测量的影响,搭配Si或InGaAs探测器,确保±0.5%T的测量精度、0.1℃的分辨率及±2℃的重复精度。调焦范围支持标准焦距0.45m至无穷远可调,近焦距0.25m~0.7m,5ms快速响应(可定制至3ms)能及时捕捉温度动态变化。瞄准系统采用高亮度绿色LED、目镜或视频瞄准,实现“所见即所测”。设备具备峰值、谷值、平均值信号处理功能,支持两路可编程模拟量输出与RS485通讯,可无缝对接工业自动化系统,在带水冷时能适应-20℃~200℃的高温工况。探测器加热温度默认 40℃,40℃~60℃可选。

MARS系列单色红外测温仪凭借宽量程与高适应性,广泛应用于热处理、金属加工、半导体等行业,涵盖MARS-S、MARS-G、MARS-EXG三大子系列,测温范围从150℃延伸至3050℃分段区间,可匹配不同温度需求场景。根据型号差异,采用Si光电池、InGaAs或扩展型InGaAs探测器,搭配对应工作波长(0.85~1.1μm至1.45~2.1μm),确保测量准确。设备测量精度达±0.5%T℃,分辨率0.1℃,重复精度±2℃,调焦范围支持0.45m至无穷远(标准焦距)与0.25m~0.65m(近焦距)。5ms快速响应可定制至3ms,能捕捉动态温度变化。采用PID恒温控制与全量程温度补偿,避免环境温度干扰,工业级OLED屏与人机交互设计简化操作。支持单路模拟量输出与RS485通讯,带水冷时适应-20℃~200℃工况,是通用性极强的工业测温设备。思捷红外测温仪,拥有二十多年研发技术积淀。合肥非接触式高温计价格优惠
销售人员可根据需求,推荐适配的红外测温仪型号。邢台在线式高温计供应商
思捷光电STRONG-SR系列双色红外测温仪,是针对高温工业场景研发的产品,测温范围覆盖600℃~3200℃(分段),适配高温炉、石墨炉、真空炉及半导体制造等严苛工况。该系列采用Si/Si叠层硅探测器,测温波长为(0.7~1.08)μm/1.08μm,测量精度达±0.5%T(T为测量温度值),分辨率0.1℃,重复精度±2℃,确保高温环境下的准确数据输出。其优势在于双色测温技术——即使检测环境存在灰尘、水汽或目标部分遮挡,信号衰减95%仍不影响测温结果,完美解决传统单色测温仪受环境干扰大的痛点。距离系数涵盖60:1、100:1至200:1,可根据测量距离与目标大小灵活选择,例如距离系数200:1时,150mm~5000mm测量距离内,光斑只有0.75mm~25mm,适配小目标高温测量。此外,产品支持PID恒温控制与全量程温度补偿,避免环境温度(-20℃~+200℃带水冷)对精度的影响,搭配高亮度绿色LED、目镜或视频瞄准(所见即所测),安装调试便捷,是钢铁、半导体等高温行业的理想选择。邢台在线式高温计供应商
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